Memory Cache

By eugeniucarvalho

  • (MIURA; MATUKURA) Discutiram o problema NBTI

    Discutiu a instabilidade de temperatura nos circuitos
    integrados.

  • NBTI como problema para confiabilidade

    Devido ao efeito da redução das dimensões dos transistores, o NBTI tornou-se um problema para a confiabilidade dos
    sistemas integrados

  • Schroder

    Aumento da tensão de limiar (VT)
    NBTI (Negative Bias Temperature Instability )
    PBTI (Positive Bias Temperature Instability )

  • Chuan

    Propõe a utilização de um oscilador em anel, baseado
    em combinação das portas lógicas NOR e NAND, para isolar e realizar testes de NBTI e PBTI.

  • Calimera et al.

    Propõe uma solução arquitetural para a redução do envelhecimento de memória cache causada por NBTI

  • (CRESSLER; MANTOOTH)

  • Kim e Rahul

    Utiliza oscilador, constituído de dois anéis e um número impar de
    circuitos de repetição, para monitoramento de NBTI e PBTI

  • Hoefler

    Propõe um circuito de memória resistente a NBTI. A ideia central da proposta é equilibrar o estresse causado pela polarização
    negativa de alguns transistores da célula de memória.

  • Chan et al.,

    As memorias se aproveitaram da evolução de integração dos processadores o que permitiu uma maior densidade disponível

  • Khalid,

    Apresenta o efeito de degradação do tempo de vida dos transistores em operações de escrita por conta do (NBTI e PBTI)